子元器件老化测试，蒸气老化试验箱

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产品时间2025-08-21

所属分类蒸汽式老化试验箱

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产品描述：湖北高天蒸汽老化试验箱，蒸汽老化试验箱适用于子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片阻容、零组件产业、子零组件金属等材料进行老化加速寿命试验。

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产品概述

子元器件老化测试，蒸气老化试验箱

湖北高天蒸汽老化试验箱，蒸汽老化试验箱适用于子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片阻容、零组件产业、子零组件金属等材料进行老化加速寿命试验。

蒸汽老化试验箱标准型号：

产品型号：GT-ZQ-34

内部尺寸：50X40X17 CM （W*H*D）

外部尺寸：60X50X42 CM （W*H*D）

温度范围：Upto97℃

控制器：PID微脑控制

加热方式：PID+SSR

升温时间：约45分钟

计时器：9999分

压：220V

热（KW）：2

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